Microscópio de medição HITEC QZW 1 250 x 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Condição: muito bom (usado), Funcionalidade: totalmente funcional, Oferecemos aqui um microscópio de medição de topo QZW 1 da HITEC Tipo 400 x 250mm Software M3: detecção automática de bordas, verificação de tolerância de acordo com DIN/ISO, visualização de elementos com entrada de tolerância, visualização de peças com cotagem, exibição de imagem ao vivo durante a medição, armazenamento adicional de imagens para sua documentação. Dell Touch PC com Windows 10 (pode ser atualizado para 11) Certificado de calibração válido até 31/07/2025 Gjdpfxoxwb Dpe Afqsui CAMPO DE MEDIÇÃO EIXO X-, Y- FAIXA DE MEDIÇÃO X-, Y- 400 x 250 mm DESVIO DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO DESVIO DE COMPRIMENTO 4 μm + L/100 (L em mm) CAMPO DE MEDIÇÃO EIXO Z- FAIXA DE MEDIÇÃO Z-AXIS 150 mm / opcional 350 mm SISTEMA DE MEDIÇÃO Z-AXIS opcional CÂMERA USB 3.0 25 quadros/s 2,0 megapixels LENTE Objetiva fixa / objetiva com zoom opcional 0,7x - 4,5x (manual/motorizada) AMPLIAÇÃO 40x ou 35x - 225x (lente com zoom) CAMPO DE VISÃO 8 mm ou 9 mm - 1,5 mm (lente com zoom) ILUMINAÇÃO POR SUPERFÍCIE 4 segmentos de anel de LED (opcional iluminação coaxial) ILUMINAÇÃO TRANSMITIDA LED (opcional telecêntrica) AUXÍLIO DE POSICIONAMENTO ponteiro laser CAPACIDADE DE CARGA DA MESA máx. 20 kg CONTEÚDO DA ENTREGA QZW1, PC touchscreen 23", software M3, certificado de calibração, manual de instruções Aplicações A série QZW1 apoia você com medições de alta precisão e repetibilidade de peças complexas de todos os materiais. Graças às numerosas opções, como objetiva com zoom, diferentes comprimentos de eixo Z e diversos tamanhos de mesas de medição, o QZW1 oferece todas as possibilidades para atender aos requisitos específicos de medição de suas peças.