Espectrómetro de emissão óticaHoriba Jobin Yvon
ULTIMA 2 ICP-OES
Espectrómetro de emissão ótica
Horiba Jobin Yvon
ULTIMA 2 ICP-OES
preço fixo não incluindo IVA
15 000 €
Condição
Usado
Localização
Borken 

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Dados da máquina
- Descrição da máquina:
- Espectrómetro de emissão ótica
- Fabricante:
- Horiba Jobin Yvon
- Modelo:
- ULTIMA 2 ICP-OES
- Condição:
- muito bom (usado)
Preço e localização
preço fixo não incluindo IVA
15 000 €
- Localização:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, DE
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Detalhes da oferta
- ID do anúncio:
- A172-64977
- Nº de referência:
- 24348
- Última atualização:
- em 15.11.2024
Descrição
Espectrómetro de emissão ótica
Aparelho de bancada Ultima 2, espetrómetro de sequência com monocromador de 1 m,
grelha de 2400 g/mm de primeira e segunda ordem 160-800 nm sem imagem
Análise panorâmica rápida
IMAGEM:
Análise rápida do panorama geral IMAGE NAVIGATOR para JY 2000-2,
JY Ultima 2 ou JY Ultima 2C
Circuito de arrefecimento externo fechado para arrefecer a bobina HF do Ultima 2
Humidificador de árgon - para análise de soluções com elevado teor de sal.
ULTIMA 2 ICP-OES - Espectrómetro de Emissão Ótica
gerador de semicondutores fiável e de alta eficiência de 40,68 MHz
Dwedpfx Asur Rmvsd Esc
varrimento completo e preciso do comprimento de onda de 160 a 800 nm como padrão
a mais alta resolução prática
O anúncio foi traduzido automaticamente e alguns erros de tradução podem ocurrer.
Aparelho de bancada Ultima 2, espetrómetro de sequência com monocromador de 1 m,
grelha de 2400 g/mm de primeira e segunda ordem 160-800 nm sem imagem
Análise panorâmica rápida
IMAGEM:
Análise rápida do panorama geral IMAGE NAVIGATOR para JY 2000-2,
JY Ultima 2 ou JY Ultima 2C
Circuito de arrefecimento externo fechado para arrefecer a bobina HF do Ultima 2
Humidificador de árgon - para análise de soluções com elevado teor de sal.
ULTIMA 2 ICP-OES - Espectrómetro de Emissão Ótica
gerador de semicondutores fiável e de alta eficiência de 40,68 MHz
Dwedpfx Asur Rmvsd Esc
varrimento completo e preciso do comprimento de onda de 160 a 800 nm como padrão
a mais alta resolução prática
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