Microscópio eletrónico de varrimento (PC-SEM)
Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

preço fixo não incluindo IVA
35 000 €
Condição
Usado
Localização
Borken Alemanha
Microscópio eletrónico de varrimento (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Microscópio eletrónico de varrimento (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
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Dados da máquina

Descrição da máquina:
Microscópio eletrónico de varrimento (PC-SEM)
Fabricante:
Jeol
Modelo:
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Condição:
muito bom (usado)

Preço e localização

preço fixo não incluindo IVA
35 000 €
Localização:
Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland Alemanha
Ligar

Detalhes da oferta

ID do anúncio:
A108-74957
Nº de referência:
23543
Última atualização:
em 18.12.2025

Descrição

Tipo: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 Microscópio Eletrônico de Varredura (PC-SEM)

Microscópio eletrônico de varredura digital moderno, de alta resolução, com ótica eletrônica de nova geração e interface gráfica intuitiva (GUI) baseada no Microsoft Windows XP Professional.

Equipamento incluindo os seguintes recursos:

• Faixa de ampliação: 5x – 300.000x
• Tensão de aceleração: 0,3 – 30 kV
• Cátodo de filamento de tungstênio (cátodo LaB6 opcional)
• Grande mesa de amostras totalmente motorizada com inclinação excêntrica, incluindo:
– Navegação gráfica no suporte de amostras
– Navegação fácil das amostras via Click-Center-Zoom
– Navegação guiada por campo de imagem através de 2 navegadores
– Navegação por coordenadas relativas
– Salvamento e reposição de posições de amostras
– Ajuste da área de visualização da mesa de amostras
– Correção do campo de imagem durante a rotação via rotação excêntrica computorizada
– Correção do campo de imagem durante a inclinação via inclinação excêntrica computorizada
– Cálculo do ângulo possível de inclinação com base na geometria da amostra
– Foco automático durante o movimento da amostra no eixo Z
– Limites inteligentes para os eixos motorizados
• Curso da mesa de amostras:
x = 125 mm
y = 100 mm
z = 5 a 80 mm (contínuo)
Dcsdpfjmn Rcqsx Abvjb
T = -10°C a +90°C
R = 360° (ilimitado)
• Detector de elétrons secundários para operação em alto vácuo
• Lente objetiva supercônica inovadora, garantindo máxima resolução de imagem mesmo em grandes ângulos de inclinação
• Resolução garantida em imagem SE: 3 nm a 30 kV e 15 nm a 1 kV
• Imagem ao vivo simultânea de múltiplos detectores
• Navegação fácil das amostras via Click-Center-Zoom
• Funções avançadas para medição de imagens
• Função de vídeo para registro de processos dinâmicos
• Câmara de amostras versátil com várias opções de expansão: flanges livres, ex. para EDX, WDX, EBSD, catodoluminescência, etc.
• Sistema de bombeamento silencioso, de baixa manutenção e desgaste, composto por bomba preliminar, bomba de difusão de alto desempenho sem vibração e controle de válvula eletromagnética
• Abrangente sistema de proteção contra operações incorretas e falhas de meios externos
• Mesa ergonômica do sistema, ajustável em altura
• Kit inicial SEM composto por 2 suportes de amostras, kit de ferramentas e 6 cátodos de reposição

Equipamento adicional para o microscópio eletrônico de varredura:

• Bomba turbomolecular substitui a bomba de difusão padrão
– Não é necessário água de resfriamento para operação do SEM com bomba turbomolecular.

Outros equipamentos SEM:
• PC para controle do SEM, incluindo monitor TFT
• ΟΧ200 Sistema Bruker Quantax 200 EDX EXTENDED
– O software EDX da Bruker será transferido ao novo proprietário após a compra!

Sistema de análise por dispersão de energia de raios X sem nitrogênio, incluindo:
• Detector SDD com resolução de energia de 127 eV ou melhor
• Detecção de todos os elementos a partir do boro
• Operação sem vibração e livre de manutenção. Resfriado por Peltier (livre de nitrogênio)
• Processador de pulsos
• Monitor TFT
• Medição de espectros e identificação de elementos
• Análise quantitativa automática e sem padrões de elementos
• Captura de imagens
• Linha de varredura qualitativa ultrarrápida
• Mapeamento qualitativo de elementos ultrarrápido
• Sistema de gestão e arquivamento de dados
• Geração de relatórios e saída de resultados
• Comunicação de dados
• Instalação e treinamento
• HyperMap
• Análise multi

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Última vez online: semana passada

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